電氣試驗(yàn)設(shè)備:
按試驗(yàn)的作用和要求不同，電氣設(shè)備的試驗(yàn)可分為緣試驗(yàn)和性
試驗(yàn)兩大類(lèi)。
1、緣試驗(yàn)：電氣設(shè)備的緣缺陷，種是制時(shí)潛伏下來(lái)的；種是在外界作用下發(fā)展起來(lái)的。外界作用有作電壓、過(guò)電壓、潮濕、機(jī)械力、熱作用、化學(xué)作用等等。上述各種原因所成有緣缺陷，可分為兩大類(lèi)：
（1）集中性缺陷：如緣子的瓷質(zhì)開(kāi)裂；發(fā)電機(jī)緣的局磨損、擠壓破裂；電纜緣的氣隙在電壓作用下發(fā)生局放電而逐步損傷緣；其他的機(jī)械損傷、局受潮等等。
（2）分布性缺陷。電氣設(shè)備的整體緣性能下降，如電機(jī)、套管等緣中的有機(jī)材料受潮、老化、變質(zhì)等等。緣內(nèi)缺陷的存在，降低了電氣設(shè)備的緣水平，我們可以通過(guò)些試驗(yàn)的方法，把隱藏的缺陷檢查出來(lái)。試驗(yàn)方法般分為兩大類(lèi)：
A. 非破壞性試驗(yàn)。是在較低的電壓下，或是用其他不會(huì)操作緣的辦法來(lái)測(cè)量各種性，從而判斷緣內(nèi)的缺陷。實(shí)踐證明，這類(lèi)方法是有效的，但由于試驗(yàn)的電壓較低，有些缺陷不能充分暴露，目前還不能只靠它來(lái)可靠地判斷緣水平，還需要我們不斷地改非破壞性試驗(yàn)方法。
B. 破壞性試驗(yàn)，或稱(chēng)為耐壓試驗(yàn)。這類(lèi)試驗(yàn)對(duì)緣的考驗(yàn)是嚴(yán)格的，別是能揭露那些危險(xiǎn)性圈套的集中性缺陷，通過(guò)這類(lèi)試驗(yàn)，能保證緣有定的水平和裕度，其缺點(diǎn)是可能在試驗(yàn)中給被試設(shè)備的緣千定的損傷，但在目前仍然是緣試驗(yàn)中的項(xiàng)主要方法。為了避免破壞性試驗(yàn)對(duì)緣的無(wú)辜損傷而增加修復(fù)的難度，破壞性試驗(yàn)往往在非破壞性試驗(yàn)之后行，如果非破壞性試驗(yàn)已表明緣存在不正常情況，則在查明原因并加以消除后再行破壞性試驗(yàn)。
2、性試驗(yàn)：通常把緣試驗(yàn)以外的試驗(yàn)統(tǒng)稱(chēng)為性試驗(yàn)。這類(lèi)試驗(yàn)主要是對(duì)電氣設(shè)備的電氣或機(jī)械方面的某些性行測(cè)試，如變壓器和互感器的變比試驗(yàn)、性試驗(yàn)；線圈的直電阻測(cè)量；斷路器的導(dǎo)電回路電阻；分合閘時(shí)間和速度試驗(yàn)等等。上述試驗(yàn)有它們的共同目的，就是揭露缺陷。，但又各具定的局限性。試驗(yàn)人員應(yīng)根據(jù)試驗(yàn)結(jié)果，結(jié)合出廠及歷年的數(shù)據(jù)行縱向，并與型設(shè)備的試驗(yàn)數(shù)據(jù)及標(biāo)準(zhǔn)行橫向，經(jīng)過(guò)綜合分析來(lái)判斷設(shè)備缺陷或薄弱環(huán)節(jié)，為檢修和運(yùn)行提供依據(jù)。