簡要描述:MHY-25917/A型便攜式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準而的,用于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
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便攜式四探針測試儀/四探針檢測儀/電阻率檢測儀 型號:MHY-25917
測量范圍寬、度、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作的便攜式
體積僅為:125mm(寬)*145mm()*245mm(深)
MHY-25917/A型便攜式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準而的,用于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
儀器采用了新電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數(shù)快、度、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等點。如有需要可加配測試臺使用。
本儀器廣泛應(yīng)用于太陽能單晶(多晶)廠家為硅材料的分選測試,半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、等院校對半導體材料的電阻性能測試。
術(shù) 標 :
按測量范圍可選配MHY-25917型或MHY-25917A型,區(qū)別:測量范圍不樣。
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